光矢量分析仪OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。

高精度光学链路诊断仪OCI原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损、光谱、时延等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度的高分辨测量。

OFDR高分辨光学链路诊断仪OCI1302是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（ OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。