高分辨光学链路诊断仪

产品型号： OCI

所属分类：光链路测量

更新时间：2025-07-22

简要描述：高精度光学链路诊断仪OCI原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损、光谱、时延等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度的高分辨测量。

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详细说明：

高分辨光学链路诊断仪OCI原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损、光谱、时延等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度的高分辨测量。

产品特点：

可选C+L、O或其他波段
最高空间分辨率10μm
测量长度100m（可定制升级）
自校准，稳定性好
可扩展分布式温度、应变测量
支持定制

产品应用：

光纤通信

光器件、光模块测量
光纤长度精确测量
硅光芯片测量
光谱、群延时测量

分布式温度、应变传感

土木建筑结构健康监测
复合材料疲劳检测
汽车结构应变、温度检测
应变场、温度场重构

高分辨光学链路诊断仪OCI的参数：

主要参数
测量长度1	100		m
空间分辨率	10μm@50m	20μm@100m	-
测量时间2	<12	<8	s
灵敏度	-130		dB
回损测量范围	-125 ~ 0		dB
回损动态范围	80		dB
插损动态范围3	18		dB
回损、插损分辨率	0.05		dB
回损、插损精度	±0.1		dB
盲区	无		-
光谱
波长范围4	1525 ~ 1625 或 1265 ~ 1340		nm
波长分辨率	0.015		pm
波长重复精度	±1.0		pm
群时延精度	1.0		ps
硬件
输入电压	AC220/110V；DC12V		-
主机功率	60		W
通讯接口	USB		-
光纤接口	FC/APC		-
尺寸5	W 345 * D 390 * H 165		mm
重量	7.5		kg
储存温度	0 ~ 50		℃
工作温度	10 ~ 40		℃
储存与工作湿度	＜90		%RH

扩展功能6
分布式应变/温度测量
传感长度	100	m
传感空间分辨率	1	mm
应变测量精度	±1.0	με
应变测量范围	±12000	με
温度测量精度	±0.1	℃
温度测量范围7	-200 ~ 1200	℃

扩展功能6
测量长度	2000			m
空间分辨率	0.5mm@500m	1mm@1000m	2mm@2000m	-

扩展功能6
采集频率	5Hz@(20m,42nm)		15Hz@(20m,10nm)		-

备注：

1.长度可定制：200m@80μm；

2.10μm空间分辨率，测量长度50m，测量时间12s；20μm空间分辨率，测量长度100m，测量时间8s；

3.插损动态范围是指标准单模光纤其散射水平被本底噪声淹没之前的最大来回损耗；

4.可定制830nm、1064nm波段；

5.尺寸可定制更小；

6.扩展功能为升级模块，需要单独购买；

7.温度测量范围取决于传感器。

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