武汉东隆科技有限公司自研的光矢量分析仪OCI-V其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。
特点:
• 自校准测量长度:200m
• 波段:C+L、O波段(可选)
• 1秒内测量多种光学参数
应用:
•平面波导器件、硅光器件、光纤器件。
• 波长可调器件、放大器、滤波器。
• 测量参数:偏振相关损耗PDL,偏振模色散PMD,插损IL,群延时GD,色散CD,琼斯矩阵参数,光学相位。
参数:
主要参数 | ||
测量长度 | 200 | m |
波段 | C+L 波段:1525~1625;O 波段:1268~1340 | nm |
波长分辨率 | 1.6 | pm |
波长精度 | ±1.0 | pm |
损耗(IL) | ||
动态范围 | 60 | dB |
插损精度 | ±0.1 | dB |
分辨率 | ±0.05 | dB |
群延时 (GD) | ||
量程 | 6 | ns |
精度 | ±0.2 | ps |
损耗范围 | 45 | dB |
色散(CD) | ||
精度 | ±10 | ps/nm |
偏振相关损耗(PDL) | ||
动态范围 | 40 | dB |
精度 | ±0.05 | dB |
偏振模色散(PMD) | ||
量程 | 6 | ns |
精度 | ±0.1 | ps |
损耗范围 | 40 | dB |
硬件 | ||
主机功率 | 50 | W |
通讯接口 | USB | - |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | D 450 * W 450 * H 166 | mm |
重量 | 18.5 | kg |
储藏温度 | 0 ~ 50 | ℃ |
工作温度 | 10 ~ 40 | ℃ |
工作湿度 | 10 ~ 90 | %RH |
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