光矢量分析仪OCI-V

产品型号：

所属分类：OFDR矢量分析仪

更新时间：2024-11-14

简要描述：光矢量分析仪OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。

详细说明：

光矢量分析仪OCI-V其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用光路设计以及*算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。

　　特点：

　　 • 自校准

• 测量长度：200m

　　 • 波段：C+L、O波段（可选）

　　 • 1秒内测量多种光学参数

　　应用：

•平面波导器件、硅光器件、光纤器件。

　　• 波长可调器件、放大器、滤波器。

　　• 测量参数：偏振相关损耗PDL，偏振模色散PMD，插损IL，群延时GD，色散CD，琼斯矩阵参数，光学相位。

光矢量分析仪OCI-V参数：

备注：

1.透射模式测量长度200m，可拓展反射模式，测量长度为100m；

2.光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能，测量光纤链路。