对保偏光纤环进行全长度的分布式串扰测量 ，精准定位环内异常串扰点 ，评估光纤环的整体偏振性能 ，为光纤环的生产工艺优化、质量控制以及故障排查提供有力支持 ，确保光纤环在实际应用中的稳定性和可靠性。
2.波导芯片的消光比及双折射测量
精确测量 Y 波导芯片等波导器件的偏振消光比和双折射特性 ，分析波导结构对偏振光的调控能力 ，为波导芯片的设计改进、性能提升以及质 量检测提供关键数据 ，推动光电子器件技术的发展与创新。
分布式偏振串扰测试仪OLI-P是基于白光干涉的，采样分辨率优 于2cm ， 噪声灵敏度可达-90dB。设备可高精度测量保偏光纤环、Y波 导芯片等器件的分布式偏振串扰。通过偏振串扰测试 ，精准定位保偏光路 中异常串扰点位置、分析连接头或耦合端面质量、测量保偏器件芯片的偏振消光比等。该产品可用于产品工艺设计改进或产线批量检测。
分布式偏振串扰测试仪OLI-P产品特点：
分布式测量保偏器件串扰
高采样分辨率和定位精度
灵敏度高、测量动态范围大
测量时间短
分布式偏振串扰测试仪OLI-P主要应用：
1.保偏光纤环的分布式串扰测量
对保偏光纤环进行全长度的分布式串扰测量 ，精准定位环内异常串扰点 ，评估光纤环的整体偏振性能 ，为光纤环的生产工艺优化、质量控制以及故障排查提供有力支持 ，确保光纤环在实际应用中的稳定性和可靠性。
2.波导芯片的消光比及双折射测量
精确测量 Y 波导芯片等波导器件的偏振消光比和双折射特性 ，分析波导结构对偏振光的调控能力 ，为波导芯片的设计改进、性能提升以及质 量检测提供关键数据 ，推动光电子器件技术的发展与创新。
分布式偏振串扰测试仪OLI-P参数：
主要参数 | ||
基础参数 | ||
工作波长 | 1290 ~ 1330 /1530~1570 | nm |
测量长度¹ | >1.4 | km |
采样分辨率² | ＜2 | cm |
串扰重复性 | ±1 | dB |
事件点分辨率 | 20 | cm |
测量时间³ | ＜15 | s |
串扰测量动态范围 | 75 | dB |
噪声灵敏度⁴ | -90 | dB |
硬件 | ||
输入电压 | AC 220/110V；DC 12V | - |
主机功率 | 60 | W |
通讯接口 | USB | - |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
储存温度 | 0 ~ 50 | ℃ |
工作温度 | 0 ~ 40 | ℃ |
储存与工作湿度 | 10 ~ 70 | %RH |
备注：
1. 光纤线性双折射按Δn=5×10-4计
2. 光纤线性双折射按Δn=5×10-4 ，设备可设置的最大采样分辨率
3. 设备满量程测量时，测量时间小于14s
4. -90dB指最大串扰峰低于-70dB时噪声水平（底噪平均值）
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