技术文章_第(9)页－武汉东隆科技有限公司

半导体和钙钛矿材料的高光谱（显微）成像
2023-07-25 目前在光伏业界，正在进行一项重大努力，以提高光伏和发光应用中所用半导体的效率并降低相关成本。这就需要探索和开发新的制造和合成方法，以获得更均匀、缺陷更少的材料。无论是电致还是光致发光，都是实现这一目标的重要工具。通过发光可以深入了解薄膜内部发生的重组过程，而无需通过对完整器件的多层电荷提取来解决复杂问题。HERA高光谱照相机是绘制半导体光谱成像的理想设备，因为它能够快速、定量地绘制半导体发射光谱图，且具有高空间分辨率和高光谱分辨率的特性。硅太阳能电池的电致发光光谱成像光伏设备...
光纤弯曲检测仪OLI：稳定可靠，检测高效
2023-07-18 Q：光纤可以弯曲吗？A：答案是可以的，因为在布线的过程中，网络不弯曲几乎难以实现，所以光纤可以弯曲，但必须保证在一定弯曲范围内，才能将损耗降至低点。光纤弯曲的问题在实际项目中经常会发生，在项目中光纤弯曲，有些操作人员，对光纤的可弯曲参数并不了解，因此担心会不会影响光纤的传输。当光从光纤的一端射入，从另一端射出时，光的强度会减弱，这意味着光信号通过光纤传播后，光能量衰减了一部分。这说明光纤中有某些物质或因某种原因，阻挡光信号通过。这就是光纤的传输损耗。只有降低光纤损耗，才能使光...
单光子计数器产生噪声的主要原因
2023-07-10 单光子计数器是一种用于检测和计数光子的高灵敏度仪器。尽管计数器在许多应用领域中具有重要作用，但它们也受到一些噪声源的影响。为了降低噪声的影响，可以采取一些措施，例如使用高质量的光学和电子元件、优化光源和探测器的匹配、使用滤波器和放大器来处理信号、控制环境条件等。此外，合适的校准和校正也是减少噪声的重要步骤。下面是单光子计数器产生噪声的主要原因：1、光电探测器噪声：通常使用光电探测器来检测光子。光电探测器本身会引入一些噪声，例如热噪声和暗计数率。热噪声是由于光电探测器内部热运动...
功率测量模块PMM能够对电路中的电功率进行精确的测量
2023-06-06 功率测量模块PMM是一种广泛应用于电力系统、电子设备和工业过程控制等领域的仪器。它能够对电路中的电功率进行精确的测量，为保证系统正常运行提供了重要的监控和控制手段。一般来说，PMM包括三部分：电压测量电路、电流测量电路和功率计算电路。在电压测量电路中，通常采用变压器或电容器等元件将待测电压转换成低电平信号，以便进行后续的放大和处理。而在电流测量电路中，则需要使用电阻器、互感器或霍尔元件等来实现电流的转换和测量。最后，功率计算电路会通过乘法运算将电压和电流信号进行相乘，并经过滤...
光纤微裂纹检测仪能够检测出光纤中的微裂纹等缺陷
2023-05-09 光纤微裂纹检测仪是一种用于检测光纤中微小缺陷的设备。它能够高效地检测出存在于光纤中的微裂纹等缺陷，为通信网的正常运行提供了保障。工作原理：基于光学原理和信号处理技术。该设备通过向光纤中注入激光光束，并利用反射信号来分析光纤中的缺陷。当激光光束遇到缺陷时，会发生光的散射和反射，这些反射信号被收集并处理，从而得到关于缺陷位置、大小和形态等信息。光纤微裂纹检测仪具有高灵敏度、高分辨率和高精度等特点，在通信网络维护和光纤制造等领域发挥着重要作用。对于长距离光纤通信系统来说，微裂纹可能...
激光光束品质分析仪具有如下几个优点
2023-04-11 激光光束品质分析仪是一种先进的测量仪器，被广泛应用于激光器、光纤激光器、CO2激光器、金属加工激光器等领域中的光束品质分析，并广泛用于光学、光电、光纤通信及其他相关领域。LaserBeamQualityAnalyzer(简称LBQA)可以测量激光光束在传输过程中在光电效应、热效应、光学变形、相位扭曲等因素影响下产生的光束品质变化情况，包括激光光束的光斑尺寸、光斑形状、光斑亮度及稳定性等参数，对激光光束输出的品质进行分析和优化。LBQA测量的重要参数包括M2参数、光斑分布图、功...
单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa
2023-04-10 ——新型基于单分子级别荧光共振能量转移(smFRET)的动态结构生物学共聚焦显微镜系统量化单分子和时间分辨荧光技术，为很多生命科学与材料科学领域提供了新的视野。迄今为止，因为其数据采集和分析需要具备较为专业的背景知识，使得该技术的普及非常缓慢。现在，PicoQuant可以提供一款全新的共聚焦显微系统——单光子计数共聚焦显微镜系统Luminosa，它具备先进的软硬件组合，在简化日常操作流程的前提下，能有效的为操作者呈现高质量的实验数据。其配备的软件为每种应用技术都设定了标准化的...
浅析高分辨率光学链路诊断仪（OCI）测试大插损光纤链路损耗
2023-03-28 武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪（OCI）是基于光频域反射技术（OFDR），单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。据了解，光频域反射技术（OFDR）测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异，其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪（OCI）插损测量动态范围为18dB，反射式测量方式动态范围为9dB。当待测链路中累积损耗超出9dB时，超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没，给测试带来误差。针对上诉...

共 97 条记录，当前 9 / 13 页首页上一页下一页末页跳转到第页