技术文章_第(10)页－武汉东隆科技有限公司

全新激光焦点分析仪SFM应用于3D打印技术
2023-02-16 激光光束测量专家德国PRIMES公司，推出了一款全新的激光扫描参数测量设备，该设备匹配选择性激光熔化（SLM）3D打印技术。ScanFieldMonitor（SFM）激光焦点分析仪是一款多功能一体化的激光光束诊断设备。该激光焦点分析仪（SFM）适用于任何激光光束和激光扫描设备的诊断分析，使用户能够轻松确定其激光光源的各种参数。ScanFieldMonitor（SFM）激光焦点分析仪具有的设计，旨在实现改进的工艺优化和系统认证，从而使用户能够更好地校准激光3D打印机，以进行工业...
时间分辨荧光共聚焦显微成像及光谱系统TRPL Mapping
2023-02-16 TRPLMapping系统简介：时间分辨荧光共聚焦显微成像及光谱系统MicroTime100&FluoTime300将正置共聚焦荧光寿命显微镜和荧光寿命光谱仪结合在一起，能实现几百nm的空间分辨率和ps~s的荧光寿命测试和光谱测试。能用于检测：荧光共聚焦成像、荧光寿命成像、时间分辨光谱、稳态激发/发射谱、时间分辨荧光共聚焦显微光谱、自由选取ROI的微区（时间分辨）荧光成像和（时间分辨）光谱，并且支持升级单分子光谱功能（闪烁，反聚束）、拓展了FLIM和红外部分，适用于诸多薄膜、...
光学链路诊断仪支持多通道测量升级
2023-02-16 光学链路诊断仪的原理基于光频域反射技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损、光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。当我们在使用光频域反射(OFDR)技术检测光链路，不仅能获得高空间分辨率的回波强度曲线，而且利用背向散射法测损耗可得到链路的沿线损耗情况及各个器件点的损耗。当光链路中有两路以上的分支时，各个分支的...
[自研]光纤微裂纹检测仪测量长度升级至1m是什么概念？
2023-02-08 光纤微裂纹检测仪以白光干涉为原理，最初受限于延时纤的测量长度只能测试6cm，使得测试场景非常局限。经过3年多的技术钻研，在刚刚过去的2022年里，东隆科技研发工程师们攻克了这个难关，在光纤测量长度上实现了二连跳，1月测量长度从最初的6cm升级至12cm，10月测量长度从12cm升级至40cm。到了2023年年初，光纤微裂纹检测仪测量长度直接升级至1m，快速实现三级跳。然而我们每一次的系统技术优化升级，都是为用户提供更好的产品和服务体验。本次，光纤微裂纹检测仪测量长度升级到1m...
TCSPC时间相关单光子计数原理及系列推荐
2023-01-11 TCSPC时间相关单光子计数技术是一种成熟且通用的单光子计数技术，是一种功能*的分析方法，目前广泛应用于荧光寿命测量、时间分辨光谱、荧光寿命成像、飞行时间测量等众多领域，尤其是在生命科学和基础物理学中使用。此技术用于执行超精确的荧光和磷光寿命测量。TCSPC时间相关单光子计数系统基于的原理是：在记录低强度、高重复频率的脉冲信号时，由于信号光强度很低，以至于在一个信号测量周期内探测到一个光子的概率远远小于1.因此，不需要考虑在一个周期内探测到几个光子的情形。只要记录这些光子，测...
高分辨光学链路诊断仪OCI能精准测量多分支光链路损耗
2023-01-11 当我们在使用光频域反射（OFDR）技术检测光链路，不仅能获得很高的空间分辨率的回波强度曲线，而且利用背向散射法测损耗可得到链路的沿线损耗情况及各个器件点的损耗。当光链路中有两路以上的分支时，各个分支的瑞利散射信号会混叠到一起，此时使用背向散射法就不能测试出各个分支光链路损耗情况。但针对多分支光链路信号混叠在一起的情况下，本文给出了高分辨光学链路诊断仪OCI测试多分支光链路中各个分支链路损耗情况的方法。背向散射法测损耗背向散射法是一种被测件DUT前一点的光功率作为测量回损（RL...
制冷型单光子PMT探测器原理及优势
2023-01-11 PMT是光电倍增管。它是一种真空器件，由光电发射阴极（光阴极）和聚焦电极、电子倍增极及电子收集极（阳极）等组成。典型的光电倍增管按入射光接收方式可分为端窗式和侧窗式两种类型。光电倍增管采用了二次发射倍增系统，所以在探测紫外、可见和近红外区的辐射能量的光电探测器中，具有很高的灵敏度和极低的噪声，响应速度非常快的单点光探测器。PMT核心原理就是通过把入射的光子转化成电子，在电子倍增电场作用下进行倍增放大，最后放大后的电子通过阳极收集后输出。通过AD转换器，信号可以通过示波器直接显...
非接触式透镜厚度测量利器光纤微裂纹检测仪（OLI）
2023-01-11 在光学领域，透镜是光学系统中最重要的组成元件，现代的光学仪器对透镜的成像质量和光程控制有很高的要求。尤其在透镜的制造要求上，加工出的透镜尺寸，其公差必须控制在允许范围内，因此需要在生产线上形成对透镜厚度实时、自动、精准的检测，这对提高产线的生产效率和控制产品的质量具有重要意义。目前，测量透镜中心厚度的方法主要分为接触式测量和非接触式测量。接触式测量有很多弊端，如不能准确找到透镜的中心点(最高点或最di点)，测量时需要来回移动透镜，效率不高，容易划伤透镜的玻璃表面。而非接触测量...

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