技术文章－武汉东隆科技有限公司

单光子计数相机暗计数校准与计数误差控制方法
2026-09-09 单光子计数相机（通常基于SPAD阵列）的暗计数是其固有噪声源，表现为无光输入时因热激发载流子产生的误触发脉冲，会形成图像中的“热像素”并引入计数偏差。校准与控制的核心思路分为硬件级抑制和算法级修正两个层面。暗计数校准方法硬件校准：偏压调控暗计数率与SPAD的过偏压密切相关。一种有效的硬件级校准是通过全局/局部双偏压方案，为每个像素独立设置偏压。校准模块将各像素实际暗计数与目标值比对，动态调整局部偏压，使全阵列暗计数率趋于一致。实验表明该技术可将暗计数均匀性提升约2.6倍。另一...
国产自研OCI-V测试光纤在不同波长下的弯曲损耗
2026-09-03 在实际使用过程中光纤都会不可避免地被弯曲，当弯曲半径小于光纤的最小弯曲半径后，光的传输途径会发生相应的改变，在弯曲处有一部分光会从基模中泄露，渗透到包层或穿过包层成为辐射模向外传输而引起光功率减小，从而产生弯曲损耗，其产生机理是因为光纤中传输光不满足全反射条件。其中弯曲半径越小，因弯曲而带来的弯曲损耗就会越大，且在弯曲半径相同时，不同波长下测试的弯曲损耗会不同，本文借助于国产自研的光矢量分析仪OCI-V能够测试光器件在不同波长下损耗的特点，对光纤进行不同弯曲状态下的损耗测试。...
『应用案例』激光划线钙钛矿太阳能微型组件的空间分辨 TRPL 成像
2026-09-03 MaximSimmonds1,EmilioGutierrez-Partida2,GalaanMerga2,JanardanDagar1,EugenyErmilov2,MarcusSackrow2,EvaUnger1,RainerErdmann2结合空间定位、光谱分析与时间分辨光致发光技术，研究激光划线区域的载流子动力学。引言钙钛矿太阳能微型组件是实验室级太阳能电池与大面积组件之间的重要一步，能够在更贴近实际应用的条件下评估器件性能与制备策略。在材料科学与半导体研究中，理解器件...
告别传统抽检：光纤微裂纹检测仪在CPO模块可靠性验证中的应用
2026-08-24 共封装光学技术将光引擎与计算芯片紧密集成于同一基板，在极大提升互联密度的同时，也引入了此前分立模块中不存在的可靠性风险。光纤在狭小空间内经历小弯曲半径布线、光引擎耦合应力以及高热负载下的温度循环，微裂纹的产生概率显著升高。传统抽检模式依赖破坏性切片或离线光学测试，既无法覆盖全批次，也难以定位具体失效点。光纤微裂纹检测仪以其非破坏性、高精度定位与全链路扫描能力，将检测节点从成品抽检延伸至研发验证、工序监控与失效分析全流程，实现了质量控制模式的结构性转变。一、研发设计阶段的风险量...
光学链路诊断仪核心优势：0.1mm事件点定位与分布式损耗测量
2026-08-19 光学链路诊断仪在光纤链路检测领域展现出两项核心技术优势：亚毫米级事件点定位精度和分布式损耗测量能力。这两项能力使仪器能够精准识别链路中的微小缺陷和渐变损耗，为光纤网络的质量评估和故障定位提供了全新的精细度。一、0.1mm事件点定位的技术基础亚毫米级事件点定位精度源于频域反射技术的宽带扫频机制。空间分辨率与扫频带宽成反比关系，当扫频带宽达到数十纳米量级时，对应的空间分辨率可进入亚毫米区间。仪器通过高精度波长校准和线性化控制，确保扫频过程的频率-时间关系严格线性，从而将频率分辨率...
单光子计数相机极弱光探测原理与像素传感架构解析
2026-08-17 单光子计数相机的核心能力，是在光子通量极低的场景下，将每个到达传感器的光子转化为可识别的电信号，实现“一个光子都不放过”的极限探测。这背后依赖独特的雪崩增益机制与阵列化像素架构。一、极弱光探测原理：盖革模式与光子计数单光子计数相机的探测核心是单光子雪崩二极管（SPAD）。与普通光电二极管不同，SPAD被偏置在高于击穿电压的反向电压下工作，即盖革模式。在此状态下，PN结内部存在强的电场。当一个入射光子被吸收并产生一个电子-空穴对时，这个载流子在强电场中被加速，碰撞出更多载流子，...
从入门到精通：光频域背光反射计操作与数据分析全流程
2026-07-26 掌握光频域背光反射计（OFDR）的操作与数据分析，是发挥其高精度检测能力的关键。本文以标准化流程为框架，从设备准备到数据解读，解析全流程核心步骤与技巧，助力用户从入门到精通，实现高效、精准的光纤检测。一、操作准备：基础配置与校准1.设备检查与连接：确认仪器供电稳定，光纤接口清洁无损伤；连接待测光纤，避免弯曲半径过小。启动设备，预热至稳定状态（通常15-30分钟）。2.参数设置：输入波长范围（如1310nm/1550nm）、扫描频率与测量距离，匹配待测光纤长度。校准参考点：使用...
突破极限！单光子计数器如何实现超低光强测量？
2026-07-11 在微观量子世界与微弱光信号探测中，单光子计数器需突破物理极限，在噪声淹没光子的异常条件下实现精准测量。其技术突破依赖三大核心路径：材料革新、电路优化与算法协同，共同构建超低光强探测能力。一、材料革新：从硅基到超导的探测边界突破1.雪崩光电二极管（APD）：通过高反向偏压触发雪崩倍增效应，将单光子激发的电子倍增至可测电流。采用InGaAs/InP材料拓展至近红外波段，搭配低温冷却抑制暗计数。2.超导纳米线单光子探测器（SNSPD）：利用超导材料在临界温度下的相变特性，实现接近1...

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