技术文章_第(12)页－武汉东隆科技有限公司

如何利用单光子计数相机实现散射介质成像
2023-02-17 美国麻省理工学院（MIT）媒体实验室的研究人员已经开发了一种新的成像系统：使用PF32SPAD阵列+TDC单光子计数相机和新的算法，测量被雾遮挡物体的距离。在实验中，该系统的表现比人类的视觉（因人的视线很难看穿雾气）更好，这对于自动驾驶来说是一个巨大的突破。透过雾成像，在自动驾驶汽车、增强驾驶、飞机、直升机、无人驾驶飞机和火车等行业中具有重要应用价值和意义。透过雾成像和被雾遮挡对象反射光信号的分布（高斯）相比，透过雾成像讨论的是从雾反射光信号的时间分布（Gamma）。这有助于...
如何利用单光子计数相机追踪动态隐藏目标
2023-02-17 我们都知道，在国内外已经有很多种技术可以重建隐藏对象的形貌，但这些方法因为无法快速采集隐藏对象的有效信息，因此对于隐藏对象的实时运动无能为力，更加无法进行实时跟踪。而来自英国PhotonForce公司的PF32SPAD阵列+TDC单光子计数相机因其55ps的时间分辨率、10bit时间数字转换器以及USB3.0（300k帧/秒）输出接口，毫无疑可以胜任动态隐藏目标的实时追踪。比如，在障碍物无法物理穿越或者很危险的情况下，能够对隐藏在角落或墙后移动物体的运动进行探测并跟踪的能力是...
全新激光焦点分析仪SFM应用于3D打印技术
2023-02-16 激光光束测量专家德国PRIMES公司，推出了一款全新的激光扫描参数测量设备，该设备匹配选择性激光熔化（SLM）3D打印技术。ScanFieldMonitor（SFM）激光焦点分析仪是一款多功能一体化的激光光束诊断设备。该激光焦点分析仪（SFM）适用于任何激光光束和激光扫描设备的诊断分析，使用户能够轻松确定其激光光源的各种参数。ScanFieldMonitor（SFM）激光焦点分析仪具有的设计，旨在实现改进的工艺优化和系统认证，从而使用户能够更好地校准激光3D打印机，以进行工业...
时间分辨荧光共聚焦显微成像及光谱系统TRPL Mapping
2023-02-16 TRPLMapping系统简介：时间分辨荧光共聚焦显微成像及光谱系统MicroTime100&FluoTime300将正置共聚焦荧光寿命显微镜和荧光寿命光谱仪结合在一起，能实现几百nm的空间分辨率和ps~s的荧光寿命测试和光谱测试。能用于检测：荧光共聚焦成像、荧光寿命成像、时间分辨光谱、稳态激发/发射谱、时间分辨荧光共聚焦显微光谱、自由选取ROI的微区（时间分辨）荧光成像和（时间分辨）光谱，并且支持升级单分子光谱功能（闪烁，反聚束）、拓展了FLIM和红外部分，适用于诸多薄膜、...
光学链路诊断仪支持多通道测量升级
2023-02-16 光学链路诊断仪的原理基于光频域反射技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损、光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度高分辨测量。当我们在使用光频域反射(OFDR)技术检测光链路，不仅能获得高空间分辨率的回波强度曲线，而且利用背向散射法测损耗可得到链路的沿线损耗情况及各个器件点的损耗。当光链路中有两路以上的分支时，各个分支的...
[自研]光纤微裂纹检测仪测量长度升级至1m是什么概念？
2023-02-08 光纤微裂纹检测仪以白光干涉为原理，最初受限于延时纤的测量长度只能测试6cm，使得测试场景非常局限。经过3年多的技术钻研，在刚刚过去的2022年里，东隆科技研发工程师们攻克了这个难关，在光纤测量长度上实现了二连跳，1月测量长度从最初的6cm升级至12cm，10月测量长度从12cm升级至40cm。到了2023年年初，光纤微裂纹检测仪测量长度直接升级至1m，快速实现三级跳。然而我们每一次的系统技术优化升级，都是为用户提供更好的产品和服务体验。本次，光纤微裂纹检测仪测量长度升级到1m...
TCSPC时间相关单光子计数原理及系列推荐
2023-01-11 TCSPC时间相关单光子计数技术是一种成熟且通用的单光子计数技术，是一种功能*的分析方法，目前广泛应用于荧光寿命测量、时间分辨光谱、荧光寿命成像、飞行时间测量等众多领域，尤其是在生命科学和基础物理学中使用。此技术用于执行超精确的荧光和磷光寿命测量。TCSPC时间相关单光子计数系统基于的原理是：在记录低强度、高重复频率的脉冲信号时，由于信号光强度很低，以至于在一个信号测量周期内探测到一个光子的概率远远小于1.因此，不需要考虑在一个周期内探测到几个光子的情形。只要记录这些光子，测...
高分辨光学链路诊断仪OCI能精准测量多分支光链路损耗
2023-01-11 当我们在使用光频域反射（OFDR）技术检测光链路，不仅能获得很高的空间分辨率的回波强度曲线，而且利用背向散射法测损耗可得到链路的沿线损耗情况及各个器件点的损耗。当光链路中有两路以上的分支时，各个分支的瑞利散射信号会混叠到一起，此时使用背向散射法就不能测试出各个分支光链路损耗情况。但针对多分支光链路信号混叠在一起的情况下，本文给出了高分辨光学链路诊断仪OCI测试多分支光链路中各个分支链路损耗情况的方法。背向散射法测损耗背向散射法是一种被测件DUT前一点的光功率作为测量回损（RL...

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