产品简介

全自动晶圆光电测试系统WIT-220AL综合考虑稳定性、电噪声处理、空间布局等设计要求，采用精密运动控制系统，高性能隔振系统，结合自主研发图像软件算法，实现高稳定性小模斑芯片光性能和高精度电性能测试，支持全自动晶圆光栅耦合或者端面耦合测试，能够满足高精密光测试指标以及电信号测量应用需求。可提前在晶圆级别筛选不良芯片，防止流入后端工艺，大幅度节约整体封测成本，提高生产效率。

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