产品简介

CA-6000AL全自动蓝膜/芯片吸附盒测试系统是一款为硅光、薄膜铌酸锂、III-V族等领域芯片测试设计的高精度自动化设备。该设备主要适用于晶圆切割后芯片的拾取、定位、测试及分选工作。其采用全自动化操作流程，可对芯片进行高速、高精度测试，将单芯片平均测试时间压缩至秒级以内，较传统方式效率大幅度提升，为封测领域带来新的发展动力。

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