产品简介
光纤链路分析仪FLA-T具有功能齐全、性价比高等特点，可实现器件、光模块等光学链路全范围插损、回损、长度的精确测量。长度测量范围为50m，精度可达毫米量级，空间分辨率为200μm，适用于定量分析、品质监测及故障诊断。
光纤链路分析仪FLA-T具有功能齐全、性价比高等特点，可实现器件、光模块等光学链路全范围插损、回损、长度的精确测量。长度测量范围为50m，精度可达毫米量级，空间分辨率为200μm，适用于定量分析、品质监测及故障诊断。
特点：
空间分辨率：200μm
测量长度：50m
中心波长：1550nm/1310nm
插损、回损分析
应用：
无源器件插损、回损测量
硅光芯片插损、回损测量
平面波导器件测试
光学链路分析、诊断
参数：
类别 | 指标 | 单位 |
测量长度1 | 50 | m |
空间分辨率2 | 200 | μm |
中心波长3 | 1550/1310 | nm |
回损动态范围 | 70 | dB |
回损灵敏度 | -130 | dB |
回损测量精度 | ±0.5 | dB |
插损动态范围4 | 15 | dB |
插损测量精度 | ±0.2 | dB |
输入电压 | AC 220/110V; DC 12V | - |
主机功率 | 60 | W |
通讯接口 | USB | - |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W345*D390*H165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
储存温度 | 0~50 | ℃ |
工作温度 | 0~40 | ℃ |
储存与工作湿度 | 10~90 | %RH |
备注：
2.空间分辨率为200μm，支持定制；
3.中心波长可定制850nm；
4.插损动态范围是指标准单模光纤其散射水平被本底噪声淹没之前的最大来回损耗。
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