FLA系列光纤链路分析仪新增850nm波段，赋能多模光纤与器件精密测量

在数据中心高速互联、高性能计算及新一代传感网络飞速发展的今天，市场对工作在850nm短波窗口的多模光纤链路及光电器件的性能提出了高要求。传统的测试手段在应对此类器件的插损、回损一体化测试以及长距离、分布式故障诊断时，往往面临精度不足、效率低下或波段不匹配等挑战。为精准破解这一行业痛点，FLA系列光纤链路分析仪正式宣布拓展其核心能力版图，新增专为850nm波段优化的高性能测量模块。此次升级旨在为从常规多模光缆、高速光模块到前沿的芯片级光互连样品，提供一套集高精度、高效率与全面性于一身的一站式检测解决方案。它不仅能够满足光器件生产线的苛刻品控需求，更能为研发阶段的性能验证与失效分析提供强大的数据支撑，从而在整个产业链的各个环节，助力用户提升产品可靠性、加速创新迭代，从容应对日益严峻的技术挑战。

FLA系列光纤链路分析仪

核心性能参数（850nm波段）

· 测量长度：500m

· 空间分辨率：2mm

· 中心波长：850nm

· 回损动态范围：70dB

· 回损重复精度：±0.5dB

· 插损动态范围：15dB

· 插损重复精度：±0.2dB

· 单次测量时间：＜15s

（注：支持定制200微米空间分辨率，测量长度50米，欢迎垂询。）

多元应用场景，覆盖产业全环节

·  光器件精准测试：可对500米内的850nm光器件进行精确的长度定位以及插损、回损一体化测试，为器件性能评估提供可靠数据。

·  分布式链路诊断与失效分析：能够对整条850nm多模光纤链路进行分布式测量，快速定位并分析连接点、断裂点、弯曲损耗等故障或性能劣化点。

·  全面支持多模光纤：支持850nm窗口的多模光纤测量，确保结果的准确性与可靠性。

·  芯片级高精度定制方案：针对前沿科研与精密制造可提供50米内200微米超高空间分辨率的定制型号，专攻850nm波段芯片级样品的精密测量。

FLA系列光纤链路分析仪通过本次850nm波段拓展，实现了从常规到特殊光纤链路测试需求的全覆盖。无论在通信工程、光器件生产制造，还是科研领域的高精度检测中，均能提供稳定、精准且高效的测量支持，持续为用户创造更高检测价值。