网站首页技术中心 > 浅析高分辨率光学链路诊断仪(OCI)测试大插损光纤链路损耗

浅析高分辨率光学链路诊断仪(OCI)测试大插损光纤链路损耗

更新时间:2023-03-28 点击量:683

武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪(OCI)是基于光频域反射技术(OFDR),单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断,并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。

OCI.jpg


据了解,光频域反射技术(OFDR)测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异,其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪(OCI)插损测量动态范围为18dB,反射式测量方式动态范围为9dB。当待测链路中累积损耗超出9dB时,超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没,给测试带来误差。针对上诉情况,本文借助光纤环形器测试出大插损光链路单向累积损耗。

首先,测试样品为可调光衰减器,借助环形器测试大插损装置如图1,将光纤环行器2端口接到OCI设备DUT口上,1端口和3端口分别与可调衰减器进出口连接。OCI设备输出光从环形器2端口进入,3端口输出,经过待测样品后进入端口1,最后从端口2返回OCI仪器。


图片

图1.借助环形器测试大插损装置示意图


OCI测试整个光链路结果如图2,距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值,对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量,而本链路中借助环形器是透射式测量,所以实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。同时,该位置积分回损为-25.69dB,是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。

图片

图2.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图

第二,使用OCI单独测试光纤环形器,损耗测试装置如图3。

图片

图3.环形器损耗测试装置示意图

图片

图4.OCI测试环形器结果图


测试结果如图4,从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值(实际光纤环形器光链路长度为3.72176m),回损为-2.55dB,是环形器单向累积损耗总和。可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。


第三,使用功率计测试可调光衰减器插耗,测试装置如图5,测得可调光衰减器插耗为23.33dB,OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。


图片

图5.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图


改变可调光衰减器插损,按照上诉方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值,下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。

图片


从对比表可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB,且OCI测试值均比功率计测试值大,这是由于功率计测试链路时,比OCI测试链路多一个FC法兰。


因此,借助光纤环形器,高分辨率光学链路诊断仪(OCI)可以透射式测量大插损链路总体损耗,测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗,OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损(RL)的动态范围,动态范围高达60dB以上时,可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量,进一步扩展OFDR设备使用场景。