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光学链路诊断仪支持多通道测量升级

更新时间:2023-02-16 点击量:204
  光学链路诊断仪的原理基于光频域反射技术,单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点,并精确测量回损、插损、光谱等参数,其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断,还可拓展分布式光纤传感功能,实现应变和温度高分辨测量。
 
  当我们在使用光频域反射(OFDR)技术检测光链路,不仅能获得高空间分辨率的回波强度曲线,而且利用背向散射法测损耗可得到链路的沿线损耗情况及各个器件点的损耗。当光链路中有两路以上的分支时,各个分支的瑞利散射信号会混叠到一起,此时使用背向散射法就不能测试出各个分支光链路损耗情况。
 
  背向散射法测损耗:
 
  背向散射法是zhi定被测件DUT前一点的光功率作为测量回损(RL)的入射光功率,进而获得RL值。时域曲线包含光纤沿线损耗分布,插损值可通过DUT前后回损值计算得到,公式为:IL=(RL₁-RL₂)/2。以测量一根光纤跳线为例,在中间位置弯曲,测量结果如下:光频域反射技术(OFDR)可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线,利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。
 
  光频域反射技术(OFDR)可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线,利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。
 
  产品特点:
 
  1、超高采样分辨率和定位精度
 
  2、超宽动态范围
 
  3、可定制引纤长度,便于匹配实际测量环境
 
  4、可定制扫描测量长度
 
  5、支持多通道测量升级
 
  主要应用:
 
  1、光纤微裂纹检测
 
  2、硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
 
  3、FA光纤阵列链路性能检测
 
  4、光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测